全志A83T整机ESD整改指南

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文件大小:1.82 MB 上传者:北京浪剑客 时间:2020-12-16 15:18:36 下载量:11

原则
对于整机遇到的ESD问题,可以参考以下准则整改:
1.提供完整、优良的静电泄放路径
2.泄放路径尽可能的在板边,避免将能量带到控制电路
3.对于实际情况无法提供优良放电路径的,可尝试实施隔离,限制能量进入控制电路区域下面以某印制板做说明。

IO静电测试
1.IO静电实验的特点是放电点为单点,整改时以优化该点的静电泄放路径为主。
2.对于IO静电测试NG的情况,可用导电布/导电泡棉粘贴IO铁壳或附近GND至大块金属面(如面板铁壳)以增大GND的面积。
3.测试时屏朝上和屏朝下应区分对待,原则以导电泡棉连接到靠近测试平台的金属面为优先。

案例-IO
1.对于屏朝上时测试NG的情况,考虑将IO GND接至金属背盖;若是塑料背盖,可背盖粘贴大面积导电布,并用导电泡棉连接IO GND至背盖导电布。
屏朝上时IO静电测试示意图
屏朝上时IO静电测试示意图

2.对于屏朝下时测试NG的情况,可考虑用导电泡棉将IO GND接至屏的铁皮。
屏朝下时 IO 静电测试示意图

非IO静电测试
非IO静电实验的特点是放电点多为平面,整改时以求最快将平面静电泄放,避免该平面与测试平台形成电容模型而致使其电场穿过控制板造成死机甚至损坏。

案例-非IO部分

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